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環(huán)境試驗設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)及共性問題

返回列表 來源:中研立華 發(fā)布日期: 2023-04-23

環(huán)境試驗設(shè)備設(shè)計、生產(chǎn)的依據(jù)是環(huán)境試驗方法,隨著生產(chǎn)力的進步、國民經(jīng)濟的發(fā)展,環(huán)境試驗方法的日臻豐富,相應(yīng)的環(huán)境試驗設(shè)備亦隨之日益增多。為了使環(huán)境試驗?zāi)芸煽?、持續(xù)地得到實施,這就需要有質(zhì)量上乘,性能合格的試驗設(shè)備,而要達到這一要求,就需有一個統(tǒng)一衡量試驗設(shè)備尺度即環(huán)境試驗設(shè)備標(biāo)準(zhǔn),以及環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定標(biāo)準(zhǔn)。

我國的環(huán)境試驗設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)(以下簡稱“設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)”)及電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)(以下簡稱“方法標(biāo)準(zhǔn)”)起草、發(fā)布、實施于二十世紀(jì)八十年代中期。“國標(biāo)網(wǎng)”上可以查詢?nèi)克枰臉?biāo)準(zhǔn)資料。這里就把我們平常的一些參數(shù)作為參考。

環(huán)境試驗設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)

1、現(xiàn)行環(huán)境試驗設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)共有九項:

    GB10586-89濕熱試驗箱技術(shù)條件

    GB10587-89鹽霧試驗箱技術(shù)條件

    GB10588-89長霉試驗箱技術(shù)條件

    GB10589-89低溫試驗箱技術(shù)條件

    GB10590-89低溫/低氣壓試驗箱技術(shù)條件

    GB10591-89高溫/低氣壓試驗箱技術(shù)條件

    GB10592-89高、低溫試驗箱技術(shù)條件

    GB11158-89高溫試驗箱技術(shù)條件

    GB11159-89低氣壓試驗箱技術(shù)條件

2、設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)中的共性問題

    1)適用范圍

    在上述的九項標(biāo)準(zhǔn)中都明確規(guī)定了本標(biāo)準(zhǔn)適用于生產(chǎn)環(huán)境試驗設(shè)備的所有廠家,對該標(biāo)準(zhǔn)所對應(yīng)的產(chǎn)品在作出廠檢驗、型式檢驗、質(zhì)量監(jiān)督檢驗時作為依據(jù)。

    2)適應(yīng)性

    按設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)檢測合格的產(chǎn)品,其性能要符合相對應(yīng)的環(huán)境試驗方法標(biāo)準(zhǔn)中對試驗設(shè)備的要求,按其檢驗要求檢測合格的產(chǎn)品方可出廠。

    3)操作性

    設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)在貫徹實施過程中基本能得到貫徹執(zhí)行。同時,該類標(biāo)準(zhǔn)在設(shè)備制造廠也應(yīng)用較多。

    4)修訂設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)的不足之處

    九項設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)起草于上世紀(jì)八十年代,隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展,工農(nóng)業(yè)及其他待業(yè)的發(fā)展和需求,修訂設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)是必須的。

3、貫徹執(zhí)行過程中的注意事項

(1)對基本環(huán)境條件的要求,綜合在一起主要有下列幾項

    A)溫度:15℃~35℃

    B)相對濕度:不大于85%RH

    C)大氣壓強:86Kpa~106Kpa www.oven.cc

    D)熱輻射:無陽光起直射,無熱源直接輻射

    E)氣流:無強烈氣流,需要時不可直接吹到箱體上

    F)電磁場:無強烈電磁場

    G)三廢:無高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì)

    H)冷卻水源:水溫不大于30℃,

         水壓控制在0.1~0.3Mpa

    I)加濕水源:電阻率不低于500Ωm

    J)電源:220±22V、380±38V、50±0.5Hz

(2)負載要求:

    A)負載品種:一般可用電工、電子產(chǎn)品或其它

        產(chǎn)品、零部件及絕緣材料等(鹽霧試驗除外)

    B)負載條件:

       ·負載總質(zhì)量:50~80Kg/m3

       ·負載總體積:不大于工作室容積的1/5

       ·阻擋主風(fēng)道總面積:不大于主風(fēng)道所處工作室

        截面積的1/3

       ·鹽霧試驗設(shè)備:規(guī)格:50*100*(1~2)mm

       ·種類:金屬

       ·樣品數(shù):160塊/m2(工作室水平面面積計)

環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)(氣候試驗設(shè)備

1、現(xiàn)行環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)共有六項:

    GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備

    GB/T5170.5-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗設(shè)備

    GB/T5170.8-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗設(shè)備

    GB/T5170.9-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法太陽輻射試驗設(shè)備

    GB/T5170.10-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備

    GB/T5170.11-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法腐蝕氣體試驗設(shè)備

2、方法標(biāo)準(zhǔn)的幾個共同問題

    1)標(biāo)準(zhǔn)適用范圍:在六項方法標(biāo)準(zhǔn)中明確規(guī)定了該類標(biāo)準(zhǔn)是環(huán)境試驗設(shè)備在進行周期檢定時檢定項目的確定,檢測儀器的選用,以及檢定條件、測試點數(shù)量、布點位置、檢定步驟、數(shù)據(jù)處理及檢定結(jié)果等內(nèi)容的執(zhí)行依據(jù)。

    2)適應(yīng)性:按方法標(biāo)準(zhǔn)檢測合格的設(shè)備,可在規(guī)定期限內(nèi)繼續(xù)進行相關(guān)的環(huán)境試驗。

    3)操作性:本類標(biāo)準(zhǔn)在環(huán)境試驗設(shè)備使用單位應(yīng)用居多,試驗設(shè)備生產(chǎn)廠應(yīng)用為少。

3、貫徹執(zhí)行過程中的幾個注意點:

    1)各分標(biāo)準(zhǔn)使用時應(yīng)與總則一起使用。

    2)對于復(fù)合試驗設(shè)備的周期檢定要若干分標(biāo)準(zhǔn)及總則一起使用

    3)檢定條件:由總則規(guī)定,其內(nèi)容與設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)相一致。

   4)負載要求:由總則規(guī)定,其內(nèi)容按設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)GB11158中規(guī)定保持一致。

設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)與檢定方法標(biāo)準(zhǔn)差異辨析

對照內(nèi)容

設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)

方法標(biāo)準(zhǔn)

適用范圍

產(chǎn)品的出廠檢驗及型式檢驗與質(zhì)量監(jiān)督檢驗

試驗設(shè)備的周期檢定

環(huán)境條件

具有一致性

負載條件

有三項要求(鹽霧試驗箱例外)

按設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)GB11158中的規(guī)定

檢驗項目

對生產(chǎn)好的產(chǎn)品進行綜合性能檢驗(包括標(biāo)志、包裝、儲存)

按試驗方法要求對試驗設(shè)備進行檢驗

受檢對象

生產(chǎn)線上裝配、調(diào)試完成后的產(chǎn)品

外形、結(jié)構(gòu)、標(biāo)志完好控制系統(tǒng)無明顯缺陷、控制精度符合要求**裝置功能正常

檢驗類型

型式檢驗、出廠檢驗、仲裁檢驗

周期檢驗

檢驗結(jié)果分類

合格、不合格、批合格、批不合格

合格、準(zhǔn)用、停用

結(jié)果處理

合格出廠、不合格不準(zhǔn)出廠批不合格、逐臺檢驗質(zhì)量監(jiān)督檢驗,合格續(xù)產(chǎn)不合格停產(chǎn)整頓

合格—發(fā)合格證(或部分合格限使用范圍)
準(zhǔn)用—發(fā)準(zhǔn)用證
停用—發(fā)停用證


設(shè)備極其參數(shù)檢定標(biāo)準(zhǔn)與試驗方法標(biāo)準(zhǔn)的對應(yīng)選擇

1、根據(jù)受試產(chǎn)品規(guī)定的試驗方法確定環(huán)境試驗設(shè)備的種類,現(xiàn)行設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)是一種產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)對應(yīng)一類設(shè)備,可作多種試驗的復(fù)合試驗箱需執(zhí)行多個設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)。

2、根據(jù)試驗方法要求,對設(shè)備進行周期檢定時,可選用一個或多個檢定方法標(biāo)準(zhǔn)對試驗設(shè)備進行檢定。

3、幾種常用的不同試驗方法所需設(shè)備的檢定方法標(biāo)準(zhǔn)

試驗方法標(biāo)準(zhǔn)

檢定方法標(biāo)準(zhǔn)

代號

名稱

代號

名稱

GB2423.1

電工電子產(chǎn)品環(huán)境第2部分試驗方法試驗A:低溫

GB5170.2

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備

GB2423.1

電工電子產(chǎn)品環(huán)境第2部分試驗方法試驗B:高溫

GB2423.22

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗N:溫度變化試驗方法

GB2423.3

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Ca:恒定濕熱

GB5170.5

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗設(shè)備

GB2423.4

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Db:交變濕熱

GB2423.9

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Cb:設(shè)備用恒定濕熱

GB2423.16

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗J:長霉

GB2423.17

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Ka:鹽霧

GB5170.8

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗設(shè)備

GB2423.18

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Kb:交變鹽霧

GB2423.19

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法 Kc:接觸點和連接件的二氧化硫試驗

GB5170.11

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法
腐蝕氣體試驗設(shè)備

GB2423.20

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法 Kd:接觸點和連接件硫件氫試驗方法


進行環(huán)境試驗過程中的幾個注意點

1、合理選擇設(shè)備溫濕度范圍及控制精度

2、注意受試品的體積、重量及擋風(fēng)橫截對設(shè)備主性能的影響

3、設(shè)備安置場所環(huán)境條件 高低溫試驗箱

4、適當(dāng)選擇試驗的嚴(yán)酷度


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