HAST高加速壽命測試，是通過對樣品施加高溫高濕以及高壓的方式，實(shí)現(xiàn)對產(chǎn)品加速老化的一種試驗(yàn)方法。廣泛用于PCB、IC半導(dǎo)體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業(yè)相關(guān)之產(chǎn)品作加速老化壽命試驗(yàn)，用于評估產(chǎn)品密封性、吸濕性及老化性能。

HAST高加速壽命測試是主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性，是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設(shè)定和創(chuàng)建溫度，濕度，壓力，的各種條件來完成，這些條件加速了水分穿透外部保護(hù)性塑料包裝并將這些應(yīng)力條件施加到材料本體或者產(chǎn)品內(nèi)部。

相對于傳統(tǒng)的高溫高濕測試，如85°C/85％RH，HAST增加了容器內(nèi)的壓力，使得可以實(shí)現(xiàn)超過100℃條件下的溫濕度控制，能夠加速溫濕度的老化效果（如遷移，腐蝕，絕緣劣化，材料老化等），大大縮短可靠性評估的測試周期，節(jié)約時(shí)間成本。HAST高加速老化測試已成為某些行業(yè)的標(biāo)準(zhǔn)，特別是在PCB、半導(dǎo)體、太陽能、顯示面板等產(chǎn)品中，作為標(biāo)準(zhǔn)高溫高濕測試（如85C/85%RH-1000小時(shí)）的快速有效替代方案。

 

HAST高壓加速壽命老化箱示意圖
 

HAST高加速壽命測試的流程一般包括以下步驟：

1.樣品準(zhǔn)備：選擇需要進(jìn)行測試的樣品，并確保樣品的尺寸、結(jié)構(gòu)、材料等符合測試要求。

2.試驗(yàn)前準(zhǔn)備：對試驗(yàn)箱進(jìn)行檢查和維護(hù)，確保其正常運(yùn)轉(zhuǎn)，并按照標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)置測試參數(shù)，如溫度、濕度、時(shí)間等。

3.樣品安裝：將待測試的樣品按照要求安裝在試驗(yàn)箱內(nèi)，確保樣品的穩(wěn)定性和安全性。

4.開始測試：啟動(dòng)試驗(yàn)箱，開始進(jìn)行高加速壽命測試。在測試過程中，試驗(yàn)箱會(huì)模擬高溫高濕環(huán)境，對樣品進(jìn)行加速老化。

5.測試過程監(jiān)控：在測試過程中，需要對樣品的性能和狀態(tài)進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)控，記錄測試數(shù)據(jù)。

6.測試結(jié)果分析：根據(jù)測試數(shù)據(jù)對樣品的性能和可靠性進(jìn)行分析和評估，找出潛在的問題和缺陷。

7.后續(xù)處理：根據(jù)測試結(jié)果對樣品進(jìn)行相應(yīng)的處理，如修復(fù)、改進(jìn)或報(bào)廢等。